Меню

Методы оценки повреждаемости алмазов

Иргиредмет постоянно совершенствует методики оценки повреждаемости алмазов в процессах измельчения руд.

Метод окрашенных протонами в циклотроне алмазов-индикаторов

Этот метод основан на облучении в циклотроне природных алмазов для придания им характерной зеленый окраски, отличной от природной. Проводится их паспортизация, минералогическое описание и фотографирование каждого кристалла в 3–4 характерных ракурсах (снимок). Алмазы—индикаторы вводятся в технологический процесс, извлекаются по схеме фабрики и выбираются из товарной продукции по характерному зеленому цвету. Извлеченные окрашенные кристаллы повторно изучаются с целью диагностики полученных в технологическом процессе повреждений с определением потерь массы и качества.

Данный способ широко применяется в настоящее время для экспрессной оценки сохранности природного качества алмазов по существующей технологии, для отработки оптимальных режимов дезинтеграции кимберлитов и при проведении сравнительных испытаний нового обогатительного оборудования, а также для контроля извлечения алмазов по технологической схеме фабрик.

Метод реставрации алмазов

Этот метод основан на сравнительной качественно-стоимостной оценке кристаллов товарной продукции фабрик, добытых за определенные периоды при разных способах и режимах дезинтеграции кимберлитов, с выделением кристаллов с техногенными и комбинированными сколами, определением степени повреждений и восстановлением первоначальной массы и качества техногенно нарушенных алмазов.

Данный способ широко применяется для оценки сохранности природного качества алмазов товарной продукции фабрик по существующей технологии, для выбора оптимальных режимов дезинтеграции кимберлитов и при сравнительных испытаниях нового измельчительного оборудования параллельно с окрашенными алмазами.

Поляризационно-оптический метод

Этот метод основан на изучении прочностных свойств алмазов (без их разрушения) в поляризованном свете с установлением по картинкам интерференции (двулучепреломления) внутренних дефектов в кристалле и их прочности.

В настоящее время применяется для определения прочностных характеристик окрашенных алмазов-индикаторов, с целью подготовки к сравнительным испытаниям равноценных по прочности и свойствам партий алмазов-индикаторов.